課程日期及交通資訊
●上課日期：115年03月05日~03月06日(週四~五)
●上課時間：09:00~17:00；每天7小時，共計14小時
●上課時間：09:00~17:00；每天7小時，共計14小時
課程內容
靜電產生及靜電放電(ESD)破壞是影響電子產品良率與可靠性的重要因素，因此從事人員在研發階段或量產階段均需針對ESD對電子組件的傷害問題有其對策，因此全方位整體性的理解其過程及防護控制是必要的。
本課程將從ESD簡介、靜電量測及各ESD發生機制及相對應的測試方式介紹起，這將對電子產品 ESD防制有著重要影響，課程最後也介紹了系統等級、零組件等級及晶片等級如何做ESD防護設計。
課程大綱
- 歡迎企業包班，請來電洽詢 課程承辦人陳小姐(ZOE) 04-25675621
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課程大綱
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課程內容
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Introduction to ESD
(ESD 介紹)
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●Introduction (簡介)
●ESD 影片觀賞
●Electrostatic Generation & Discharge
(靜電產生與放電)
●HBM ESD (靜電放電能量估算)
●Case Study: ESD Damages in Microelectronics
(電子業的ESD傷害模式案例)
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Electrostatic Measurement
(靜電量測)
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●Electrostatics in industry (工業界的靜電發生)
●Charge Measurement (電荷量測)
●Case Study (案例探討)
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ESD modes and Testing
(ESD發生方式及工業測試規範) |
●Human Body Model (人體模型標準)
●Machine Model (機器模型標準)
●Charged Device Model (元件帶電模型標準)
●ESD Testing Standards (ESD測試標準)
●ESD Comparisons(零組件級ESD各標準之比較)
● System-Level ESD Stress Model
(系統級ESD測試模型標準)
●Case Study (案例探討)
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ESD Protections in Microelectronics
(微電子業ESD防護設計)
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●System Level ESD Protections
(系統級ESD防護)
●CDM ESD Protection by System Solutions
(CDM系統級ESD防護)
●Components ESD Protection
(零組件ESD防護)
●On-Chip Protection Techniques
(晶片級ESD防護
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