課程日期及交通資訊
●上課日期：114/07/17~18(週四~五)
●上課時間：09:00~17:00；每天7小時，共計14小時
課程內容
靜電產生及靜電放電(ESD)破壞是影響電子產品良率與可靠性的重要因素，因此從事人員在研發階段或量產階段均需針對ESD對電子組件的傷害問題有其對策，因此全方位整體性的理解其過程及防護控制是必要的。
本課程將從ESD簡介、靜電量測及各ESD發生機制及相對應的測試方式介紹起，這將對電子產品 ESD防制有著重要影響，課程最後也介紹了系統等級、零組件等級及晶片等級如何做ESD防護設計。
課程大綱
- 歡迎企業包班，請來電洽詢 課程承辦人陳小姐(Joan) 04-25675621
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課程大綱 |
課程內容 |
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Introduction to ESD (ESD 介紹) |
●Introduction (簡介) ●ESD 影片觀賞 ●Electrostatic Generation & Discharge (靜電產生與放電) ●HBM ESD (靜電放電能量估算) ●Case Study: ESD Damages in Microelectronics (電子業的ESD傷害模式案例) |
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Electrostatic Measurement (靜電量測) |
●Electrostatics in industry (工業界的靜電發生) ●Charge Measurement (電荷量測) ●Case Study (案例探討) |
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ESD modes and Testing
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●Human Body Model (人體模型標準) ●Machine Model (機器模型標準) ●Charged Device Model (元件帶電模型標準) ●ESD Testing Standards (ESD測試標準) ●ESD Comparisons(零組件級ESD各標準之比較) ● System-Level ESD Stress Model (系統級ESD測試模型標準) ●Case Study (案例探討) |
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ESD Protections in Microelectronics (微電子業ESD防護設計)
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●System Level ESD Protections (系統級ESD防護) ●CDM ESD Protection by System Solutions (CDM系統級ESD防護) ●Components ESD Protection (零組件ESD防護) ●On-Chip Protection Techniques (晶片級ESD防護 |