【日本專家】EV車用半導體可靠性、SiC元件挑戰與國際標準動向:三建技術課程(培訓中心)

課程資訊

開課日期

2025-05-20

學習時程

09:30-16:30

上課時間

週二

上課時段

上午,下午

適用對象

從事車載半導體、SiC元件技術的工程師、研究人員、開發人員

課程特色

車載半導體的供應不足，導致新車交貨延遲，供應鏈重要性引起全球關注。隨著電動車(EV)的快速普及以及安全保障的考量，半導體在未來的發展會發生重大變化。
車載半導體的可靠性認證指南由美國三大車廠主導制定的AEC-Q100/101目前正成為全球標準。然而，AEC-Q100存在需要大量樣本和長時間測試的問題，這會導致評估成本龐大。同時，日本於2011年發布了車載認證指南JEITA ED-4708，並在2017年7月於IEC進行了國際標準化（IEC 60749-43），目前已經重新編排至IEC 63827系列。
本課題將深入探討AEC-Q100的測試要求、問題點及日本版的AEC-Q100規範EDR-4708的使用方法。此外，隨著電動車用功率半導體的興起，尤其SiC(碳化矽)元件的普及期，雖然其可靠性挑戰仍在進行中，課題內也會詳細討論SiC元件的相關議題。

詳細內容

一、車載用半導體積體電路的動向
1-1 車載用半導體積體電路的技術發展趨勢
．民用產品與車載產品之間的質量和可靠性差異

二、車載用半導體的可靠性要求
2.1 基於加速測試的可靠性要求
．溫度加速、溫差加速、電壓加速、濕度加速的測試方法
2.2 事例介紹
．實際的加速率、可靠性水平計算示例

三、半導體積體電路的認證指南
3-1 AEC-Q100內容及其原則
．測試流程、條件及問題
3-2 JEITA ED-4708內容及其原則
．品質保證理念、樣本數量及測試條件
3-3 國際標準化的進展
．車載認證規範的未來方向

四、利用任務配置文件進行可靠性測試設計
．高溫保證下的元件可靠性保障策略

五、SiC元件的可靠性挑戰及國際標準趨勢
．SiC元件的特性與面臨的挑戰
．SiC元件閘極可靠性與AC-BTI（交流電阻熱衰退）測試要點

師資介紹

日本退役專家

【上課方式】
台北+台南+線上視訊同步辦理

【課程優惠規則說明】
報名1位6615元/每人
報名2位6300元/每人
報名3位5985元/每人
※參加線上視訊，限3位以上團報。
※額外加價630元，升級彩色版講義。

備註

※如有疑問請留下資料由專人與您聯繫。

開課日期 \|	2025-05-20
課程費用 \|	線上洽詢
開課地點 \|	台南市永康區中華路12號18樓-1

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