AOI光學檢測系列：X光成像技術於工業、醫療、晶片封裝之精密檢測實務解
開課日期 | |
2026-04-16 |
課程費用 | |
線上洽詢 |
開課地點 | |
新竹縣竹東鎮竹東鎮中興路四段195號 |
| 適合職務 | |
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課程資訊
適用對象
課程特色
詳細內容
師資介紹
課程資訊
開課日期
2026-04-16
學習時程
6小時
上課時間
週四
上課時段
上午,下午
適用對象
1. 自動光學檢測（AOI）系統設備工程師：需精通光學成像，以提升設備辨識精度與缺陷檢出率
2. 製造業品管與製程工程人員：熟悉檢測技術，有效導入或優化產線的AOI光學檢測系統
3. 影像處理與機器視覺技術人員：了解如何結合影像演算法與非破壞影像成像技巧，以提升分析效果
4. 光學與檢測設備設計從業者：了解如何結合影像演算法與X光成像技巧，以提升分析效果
5. 半導體、電子零組件、PCB、精密機械等高科技製造業從業人員：掌握非破壞檢測設備應用與設計基礎，提升自家產品檢測精準度與生產品質
課程特色
1. X光檢測公司的業界實戰經驗：累積多年X光源整合與AOI系統設計經驗，由實際產業需求出發，帶你不只是學「怎麼X光成像」，而是建立「為什麼這樣打」的設計邏輯，培養可獨立判斷的X光設計能力。掌握從專業的檢測分析技術，學員將能夠精確地識別和評估材料和製程中的缺陷和變異。
2. 13年資深研發型主管親授X光產業生態：講師擁有超過13年的AOI與X光研發經驗，對半導體製造和檢測相關政策和行業標準的深入理解，學員將能夠更好地了解和應對市場和政策的變化。
詳細內容
1. 掌握X光成像技術的基礎理論和原理：深入了解X光成像的基本原理、物理基礎以及其在先進封裝和3D IC中的應用場景，確保學員具備扎實的理論知識基礎。
2. 提升觀察操作技能和檢測方法：透過實驗和觀察，培養學員使用X光設備進行檢測的操作技能，提升經驗能掌握檢測過程中的各項技術細節和設計流程。
3. 精通缺陷識別和分析技術：培訓學員如何使用X光成像進行缺陷識別和分析，學習如何通過影像處理和數據分析來檢測和診斷先進封裝和3D IC中的潛在問題。
4. 應用案例分析和問題解決能力：透過具體的案例分析，培訓學員如何在實際生產中應用X光成像解決問題，提升其在真實工作環境中的應用能力和解決實際問題的能力。
5. 提升產品質量和良率：透過學習和應用X光成像技術，提高產品的品質控制，降低生產過程中缺陷率和返工率，最終提升產品的良率和生產效率。
<備註>有企業包班上課或客製化培訓需求，歡迎直接聯繫課程承辦人：03-5913417 謝小姐
師資介紹
樓博士
【學歷】
國立清華大學 科技管理學院-高階經營管理2023年EMBA 碩士
元智大學電機系-光電工程研究所2014年博士
元智大學電機系-光電工程研究所2014年博士
【經歷】
築富科技股份有限公司 執行長 CEO
工業技術研究院 南分院/雷射中心 經理/化合物計畫主持人
工業技術研究院 材料與化工研究所/前瞻碁盤組 國家型科技專案計畫/3DX 光半導體奈米檢測計畫
工業技術研究院 量測技術發展中心/儀器與感測組 TAF Lab 技術主管/警政署/關務署 X 光諮詢委員
元智/清華/交通大學 電機系/光電工程所(半導體組)III-V 族化合物半導體磊晶與材料元件應用設計
中華民國科技管理協會 專業科技管理 永久會員
新竹企業經理人協進會 專業經理人 永久會員(光電組副主委)
工業技術研究院 南分院/雷射中心 經理/化合物計畫主持人
工業技術研究院 材料與化工研究所/前瞻碁盤組 國家型科技專案計畫/3DX 光半導體奈米檢測計畫
工業技術研究院 量測技術發展中心/儀器與感測組 TAF Lab 技術主管/警政署/關務署 X 光諮詢委員
元智/清華/交通大學 電機系/光電工程所(半導體組)III-V 族化合物半導體磊晶與材料元件應用設計
中華民國科技管理協會 專業科技管理 永久會員
新竹企業經理人協進會 專業經理人 永久會員(光電組副主委)
【證照】
ISO 9001/17025/45001 稽核員、原能會輻安證書、iPAS 資安證書
【專長】
CT/AXI/AOI設計技術、半導體AI分析檢測技術、半導體元件製程整合、光電元件分析、TAF標準計量技術、科技及商業管理
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